这些激光源中内置波长监测功能，可以确保高波长精度和可重复性，特别是在快速波长扫描的过程中。这些“波长记录”数据利用测量触发信号实现与功率计的同步。如果需要更高的***波长精度，可通过气体参考信号进行偏置校准，PFL 支持工程师方便地完成校准操作。InGaAs 功率检测器在单模光纤波长范围 (1260-1630nm) 内具有极小的响应度变化以及高灵敏度和宽动态范围，苏州柔性屏高低温光学测试系统，苏州柔性屏高低温光学测试系统，是进行此类测量的比较好工具。N7744A 和 N7745A 功率计特别适合这些扫描波长测量：快速采样率和宽信号带宽可在高速扫描时获得高 分辨率的测量结果，而且测量迹线没有失真，苏州柔性屏高低温光学测试系统。更快的数据传输速度可以极大提高吞吐量，尤其适合端口数量极多的情况。

扫描波长光学测量解决方案结合使用一个或多个光功率计与可调激光源 (TLS)，可以支持光功率与波长关系测量。此类测量常用于确定被测器件输入功率与输出功率的比值，比值称为插入损耗，单位为 dB。当 TLS 在选中范围内调谐波长时，功率计将定时采样指定数量测量点的功率。通过一个触发信号与 TLS 扫描同步，这些样本能够实现与对应波长的精确相关。使用多个功率计可以同时测量多端口器件 (例如多路复用器、功率分离器和波长开关) 的输出。使用81600B、81940A 或 81980A TLS，以及功率计 (例如 816x 系列模块或多端口 N7744A 和 N7745A) 和**的 N7700A IL 软件，可以组成一个测量系统。这些“波长扫描”例程的编程过程非常简单，可以使用**的 816x 即插即用驱动程序，并应用 N4150A 光基础程序库 (PFL) 的测量功能进行增强。该测量装置在 TLS 后与 81610A 回波损耗模块连接，还可以测量光反射 (回波损耗)。

ORI测试系统由一组CRI离轴反射式平行光管、一组TG目标发生器、一组CGT控制器、一组机械适配器、AEH光学台、MP机械调整台、一组光谱滤波片、一组光衰减器、一组靶标、一组IM电子相机（版本配置适用于不同的光谱带宽）、计算机、图像采集卡、TAS-O软件、以及可选的一组参考镜头组成。一组离轴反射式平行光管用于不同口径及焦距光学镜头的精确测试，一组电子相机用于测试工作在不同光谱带宽的镜头。ORI测试系统是一套多功能的测试系统，支持所有类型的工作在紫外到长波红外波段的光学镜头（紫外镜头，可见光镜头，可见光/近红外镜头，短波红外镜头，中波红外镜头以及长波红外镜头）。多功能的实现由设计一系列的模块而实现（相机，一组靶标，目标发生器等），适用于不同光谱范围的镜头测试。通过模块的更换，ORI测试系统可以简单的实现由可见光镜头测试转换为红外镜头的测试。

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