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江苏光学膜透过率相位差测试仪特点 苏州千宇光学科技供应

信息介绍 / Information introduction

相位检测仪器工作原理 数字相位计一般采用相位-电压转换法的相位差数字化测量方法.它测量的是同频信号的相位差,相位差为φ的两个同频信号U1(t)和 U2(t)分别经过各自的衰减电路被衰减成为振幅在0.6V到2,江苏光学膜透过率相位差测试仪特点.0V的基准电压,江苏光学膜透过率相位差测试仪特点,然后送至相应的整形电路整形为方波,此时对称调整电路会对这两 个信号进行对称调整,江苏光学膜透过率相位差测试仪特点,使得测量结果更准确,这样就得到了两个同频方波信号,再经过鉴相脉冲电路得到一个随相位差变化而变化的脉冲信号 △t.相位差的数字化是采用填充计数法实现的,即用周期为τ的脉冲分别对△t和T进行计数,则相位 差:φ=△tTX360° =n1 Tn2τ X360° =n1n2X360°式子中T为两个被测信号的周期,n1为△t时间内所填充的脉冲个数, n2为T时 间内所填充的 脉冲个数。由于不同的信号电压大小不同,所以他们需要进入不同的衰减电路,才能保证整个电路的安全和测量的准确性,这就需要一个精确 的自动换程电路.而后续的信号处理需要--个幅值稳定在-一个范围内的基准信号,这就需要通过衰减器来实现. 偏光片吸收轴角度、偏振片偏振方向、波片快轴方向。江苏光学膜透过率相位差测试仪特点

概述 相位差测量仪操作简洁、使用方便、安全,由于采用电流耦合、高阻输入方式对轨道电路相位差、相邻区段极**叉进行查看,处理了相邻区段有车占用时极**叉无法查看的问题。 功用 1) 对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精细丈量。 特点 a)高度集成,精度高; b)稳定性好,功能牢靠; 典型使用 1)相控雷达阵、无线电导航系统、自动控制系统的测距和定位,电力系统中相电压的相位差丈量等; 2) 适用于25Hz相敏轨道电路设备的电压、电流和频率、相位差的检测。 江苏光学膜透过率相位差测试仪特点偏光片吸收轴角度、偏振片偏振方向。

随着科学技术突飞猛进的发展,电子技术比较广的应用于工业、农业、交通运输、航空航天、**建设等国民经济的诸多领域中,而电子测量技术又是电子技术中进行信息检测的重要手段,在现代科学技术中占有举足轻重的作用和地位。实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展,很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展,这使得仪器的使用比较简单,功能越越多。  相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验,具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗干扰性,适应各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出,经过处理后直接发射出去。接收并进行相位比较,对核相后的结果定性。

    相位常应用在科学领域,如数学、物理学等。例如:在函数y=Acos(ωx+φ)中,ωx+φ称为相位。在astrolog32中点击ALTIFT+A可以显示相位设定菜单。在交流电中,相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流,它的公式是i=Isin2πft。i是交流电流的瞬时值,I是交流电流的比较大值,f是交流电的频率,t是时间。随着时间的推移,交流电流可以从零变到比较大值,从最 大值变到零,又从零变到负的最 大值,从负的比较大值变到零。在三角函数中2πft相当于弧度,它反映了交流电任何时刻所处的状态,是在增大还是在减小,是正的还是负的等等。因此把2πft叫做相位,或者叫做相。 测量重复性:0.02° (精度业内比较高)。

相位差测量是两同周期正弦电量对应点间角度差值的测量。

此两正弦电量可以同为电压、电流,或一为电压、一为电流等。对应点常取正弦电量由负到正的过零点,相当于正弦电量函数的初相角。相位差的单位是度或弧度,正、负号表示**或滞后关系。

待测相位差的正弦电量的频率范围很广,因此采用的测量方法和仪器一般随频率的高低来选择。

常用的方法:

直接法使用**的仪表如指针式相位表、数字相位表,或采用阴级示波器来测量相位差。采用阴极示波器时,将两同频正弦电压信号分别加到示波器的X、Y轴,得到如图1所示的椭圆图形,则两正弦电压之间的相位差∮=arc sin(b/α)。这一方法不能判断两信号哪一个**或滞后,并且在∮值接近零时,椭圆也退化接近成为一条直线,即b值很小,所以∮值很难测准

间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。


测量重复性精度业内比较高。江苏光学膜透过率相位差测试仪特点

相位差测试仪有AXOSCAN相位差测试仪。江苏光学膜透过率相位差测试仪特点

光谱仪参数

探测器类型:                   HAMATSU光电二极管阵列

像素点:                              2048

光栅:                          全息平场凹面衍射光栅

狭缝:        可选择狭缝宽度(25um、50um、100um、200um)

光谱范围:                        VIS:400--800nm

UV-VIS:190--800nm

光学分辨率:                     VIS:1.5nm(100um狭缝)

UV-VIS:1.5nm(100um狭缝)

波长精度:                             ±0.2nm

光谱杂散光:                             <0.05%(400nm)

信噪比:                               2000:1

AD分辨率:                             16bit

积分时间:                            0.1ms--60s

供电:                                 5V/220mA

通讯接口:                          USB2.0(480Mbps)

解析多层相位差:相位差(0~20000nm)

吸收轴角度/偏光轴角度

透过率,色度(La、b),偏光度

快轴慢轴角度

单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm~nm为主)

内应力(此功能软件开发中)

江苏光学膜透过率相位差测试仪特点

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